PRODUCT CENTER/產(chǎn)品中心
QIII SX表面微粒子計(jì)數(shù)器 表面潔凈分析儀
- 產(chǎn)品描述
-
- 商品名稱: QIII SX表面微粒子計(jì)數(shù)器 表面潔凈分析儀
- 商品編號(hào): QIII SX
顆粒敏感度范圍:5um·125um 通道:5、10、25、50、100、125um 傳感器:雷射二極管 顯示屏幕:7 英寸 WVGA,觸控屏幕,帶有縮放功能 數(shù)據(jù)輸出:USB 端口、以太網(wǎng)絡(luò)、WiFi (選配) 語(yǔ)言:英文、中文、日文、韓文 尺寸和重量:寬12英寸X 深12英寸X 高9英寸,26.5 磅 輸入電源:100-240 VAC,50/60 赫茲 電池:2顆 鋰電池,可熱插入
QIII SX表面微粒子計(jì)數(shù)器 表面潔凈分析儀
規(guī)格說(shuō)明
顆粒敏感度范圍:5um·125um
通道:5、10、25、50、100、125um
傳感器:雷射二極管
顯示屏幕:7 英寸 WVGA,觸控屏幕,帶有縮放功能
數(shù)據(jù)輸出:USB 端口、以太網(wǎng)絡(luò)、WiFi (選配)
語(yǔ)言:英文、中文、日文、韓文
尺寸和重量:寬12英寸X 深12英寸X 高9英寸,26.5 磅
輸入電源:100-240 VAC,50/60 赫茲
電池:2顆 鋰電池,可熱插入
美國(guó)Pentagon Technologies ST表面塵埃粒子理化分析儀是當(dāng)今行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量工具及過(guò)程控制表面顆粒污染解決方案專家.
更加有效管控表面粒子在0.1 um范圍成為了至關(guān)重要的產(chǎn)量良率及過(guò)程控制測(cè)量的重要指標(biāo)。
Pentagon Technologies針對(duì)從submicron至deep submicron (0.18, 0.13..) 的Production機(jī)臺(tái), 建立了特別的PM procedure可降低50% Test Wafer的消耗量及增加OEF(Overall Equipment Effectiveness), 其應(yīng)用于各種Thin Film( PVD, CVD..), Etching and Diffusion Equipments. 以及工作臺(tái)面積臺(tái)表面潔凈度等的驗(yàn)證.
Pentagon Technologies 亦針對(duì)Fab整體的contamination可提供詳細(xì)的偵測(cè)及評(píng)估進(jìn)而提高OFE (Overall Fab Effectiveness), 這可提供QA人員非常advanced的幫助。
適合使用單位:
•適合客戶群: 半導(dǎo)體黃光, 蝕刻制程, 零件清洗商,設(shè)備清潔維護(hù), 光電廠, 玻璃基板廠等
•適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC , Microntation , Etch, Diffusion.關(guān)鍵詞:- 表面
- 英寸
- pentagon
- 適合
- technologies
- 粒子
- fab
- qa
- pvd
上一頁(yè)
下一頁(yè)
上一頁(yè)
QIII SM表面微粒子計(jì)數(shù)器 表面潔凈分析儀
下一頁(yè)
在線留言
